09:00
Cerimonia di Apertura
09:30
DIGITALIZZAZIONE DELLA FABBRICA E IMPATTI SUL FATTORE UMANO: IL PROGETTO “NEMESI”
Relatori:
D. Santoro (Leonardo)
A. Di Donato (Leonardo)
10:15
APPLICAZIONI METROLOGICHE CON IL SISTEMA DI TOMOGRAFIA COMPUTERIZZATA A RAGGI X DI WAYGATE TECNOLOGIES: V|TOME|X M
Relatore:
L. Tentorio (SMART NDT)
11:00
STAMPA 3D E CONTROLLO QUALITÀ CARL ZEISS
Relatore:
A. Lombardo (Zeiss)
12:00
CONVEGNO:
AGENDA 2030 PER LO SVILUPPO SOSTENIBILE: EQUAZIONI, VARIABILI E
SOLUZIONI
14:00
IMPATTO DELLE NUOVE NORME 9101 E 9104-1 NEL PROCESSO DI CERTIFICAZIONE 9100
Relatore:
A. Ciancio (Plexus)
14:30
DIBATTITO:
A.NERINO (LEONARDO), I. MALANDRINO (LEONARDO), C. MAZZARELLA
(L.AUDITOR), A. CIANCIO (PLEXUS)
15:15
COME UN SISTEMA MES PUÒ SOSTENERE LA QUALITÀ
(QUALITAS INFORMATICA)
15:45
OLTRE LA MICROSCOPIA TRADIZIONALE: UN LABORATORIO IN UN UNICO
STRUMENTO. CREAZIONE DI MODELLI 3D ED ANALISI DELLA RUGOSITÀ
SUPERFICIALE.
(EVIDENT SCIENTIFIC)
16:30
CONVEGNO:
INNOVAZIONE E INDUSTRIA 4.0: LA SFIDA NON PIÙ RINVIABILE DELLA
DIGITALIZZAZIONE DEI PROCESSI
(EVIDENT SCIENTIFIC)
09:00
IN ESCLUSIVA PER L’ITALIA: CORSO APQP PPAP HARMONIZED STELLANTIS V2022
Relatore:
A. Ciancio (Plexus)
09:30
REALTÀ AUMENTATA E MISTA: “ESPERIENZA LEONARDO NEL CONTROLLO QUALITÀ”
Relatore:
V. Pellegrino (Leonardo)
14:00
TECNOLOGIE PER L’ASSEMBLAGGIO E GESTIONE DEI DATI PER L’AUTOMAZIONE DI FABBRICA: IL PROGETTO TOP
Relatore:
D. Santoro (Leonardo)
L. Nele (UNINA)
14:45
COME LA STAMPA 3D AIUTA LA PRODUZIONE INDUSTRIALE DI PARTI FINITE
(SELLTEK)
15:15
TOMOGRAFIA COMPUTERIZZATA INDUSTRIALE:STRUMENTO DI RICERCA SCIENTIFICA E SVILUPPO TECNOLOGICO
Relatore:
R. Girelli (LABORMET DUE)
15:45
MISURE DI INDICAZIONI SUPERFICIALI IN-SITU TRAMITE GELSIGHT
Relatore:
L. Lorenzi (SMART NDT)
16:30
CONVEGNO:
INTERNAZIONALIZZAZIONE DELLE IMPRESE E NUOVE OPPORTUNITÀ
10:00
COME IDENTIFICARE ED ANALIZZARE LE INEFFICIENZE PRODUTTIVE PER TRARNE UN VANTAGGIO ECONOMICO
Relatore:
L. Ferrari (FORMULA SPA)
10:30
SOSTENIBILITÀ E COST SAVING CON L EVOLUZIONE 4.0 DELLE EMULSIONI
(MG UTENSILI)
11:00
AWARD:
PREMIAZIONE INNOVATION DONE
WMD World Metrology Day è l’evento dedicato alla Metrologia, al Collaudo Dimensionale, Controllo Qualità, Automazione, Industria 4.0 e Stampa 3D, dedicato principalmente alle aziende del comparto Aeronautico, Automotive e Ferroviario
L’evento prevederà sia esposizioni di nuove tecnologie da parte di aziende multinazionali leader nel proprio mercato di riferimento, sia workshop e convegni dedicati ad approfondimenti sul tema della Metrologia e Automazione di tipo accademico, in collaborazione con Università ed enti di alta formazione.
Negli ultimi due anni abbiamo dovuto ridimensionare le nostre idee e gli spazi per adattarci alla situazione sfavorevole e potervi ospitare comunque con le condizioni giuste per assicurare la sicurezza di tutti.
Nel 2022 WMD si terrà in una location storica di Napoli, il Museo Nazionale Ferroviario di Pietrarsa
SCOPRI COME RAGGIUNGERCI
Via Pietrarsa, 16, 80146 Napoli NA