09:00
Cerimonia di Apertura
09:30
DIGITALIZZAZIONE DELLA FABBRICA E IMPATTI SUL FATTORE UMANO: IL PROGETTO “NEMESI”
Relatori:
D. Santoro (Leonardo)
A. Di Donato (Leonardo)
10:15

APPLICAZIONI METROLOGICHE CON IL SISTEMA DI TOMOGRAFIA COMPUTERIZZATA A RAGGI X DI WAYGATE TECNOLOGIES: V|TOME|X M
Relatore:
L. Tentorio (SMART NDT)
11:00

STAMPA 3D E CONTROLLO QUALITÀ CARL ZEISS
Relatore:
A. Lombardo (Zeiss)
12:00
CONVEGNO:
AGENDA 2030 PER LO SVILUPPO SOSTENIBILE: EQUAZIONI, VARIABILI E
SOLUZIONI
14:00

IMPATTO DELLE NUOVE NORME 9101 E 9104-1 NEL PROCESSO DI CERTIFICAZIONE 9100
Relatore:
A. Ciancio (Plexus)
14:30
DIBATTITO:
A.NERINO (LEONARDO), I. MALANDRINO (LEONARDO), C. MAZZARELLA
(L.AUDITOR), A. CIANCIO (PLEXUS)
15:15

COME UN SISTEMA MES PUÒ SOSTENERE LA QUALITÀ
(QUALITAS INFORMATICA)
15:45

OLTRE LA MICROSCOPIA TRADIZIONALE: UN LABORATORIO IN UN UNICO
STRUMENTO. CREAZIONE DI MODELLI 3D ED ANALISI DELLA RUGOSITÀ
SUPERFICIALE.
(EVIDENT SCIENTIFIC)
16:30
CONVEGNO:
INNOVAZIONE E INDUSTRIA 4.0: LA SFIDA NON PIÙ RINVIABILE DELLA
DIGITALIZZAZIONE DEI PROCESSI
(EVIDENT SCIENTIFIC)
09:00

IN ESCLUSIVA PER L’ITALIA: CORSO APQP PPAP HARMONIZED STELLANTIS V2022
Relatore:
A. Ciancio (Plexus)
09:30
REALTÀ AUMENTATA E MISTA: “ESPERIENZA LEONARDO NEL CONTROLLO QUALITÀ”
Relatore:
V. Pellegrino (Leonardo)
14:00

TECNOLOGIE PER L’ASSEMBLAGGIO E GESTIONE DEI DATI PER L’AUTOMAZIONE DI FABBRICA: IL PROGETTO TOP
Relatore:
D. Santoro (Leonardo)
L. Nele (UNINA)
14:45

COME LA STAMPA 3D AIUTA LA PRODUZIONE INDUSTRIALE DI PARTI FINITE
(SELLTEK)
15:15

TOMOGRAFIA COMPUTERIZZATA INDUSTRIALE:STRUMENTO DI RICERCA SCIENTIFICA E SVILUPPO TECNOLOGICO
Relatore:
R. Girelli (LABORMET DUE)
15:45

MISURE DI INDICAZIONI SUPERFICIALI IN-SITU TRAMITE GELSIGHT
Relatore:
L. Lorenzi (SMART NDT)
16:30
CONVEGNO:
INTERNAZIONALIZZAZIONE DELLE IMPRESE E NUOVE OPPORTUNITÀ
10:00

COME IDENTIFICARE ED ANALIZZARE LE INEFFICIENZE PRODUTTIVE PER TRARNE UN VANTAGGIO ECONOMICO
Relatore:
L. Ferrari (FORMULA SPA)
10:30
SOSTENIBILITÀ E COST SAVING CON L EVOLUZIONE 4.0 DELLE EMULSIONI
(MG UTENSILI)
11:00

AWARD:
PREMIAZIONE INNOVATION DONE
WMD World Metrology Day è l’evento dedicato alla Metrologia, al Collaudo Dimensionale, Controllo Qualità, Automazione, Industria 4.0 e Stampa 3D, dedicato principalmente alle aziende del comparto Aeronautico, Automotive e Ferroviario
L’evento prevederà sia esposizioni di nuove tecnologie da parte di aziende multinazionali leader nel proprio mercato di riferimento, sia workshop e convegni dedicati ad approfondimenti sul tema della Metrologia e Automazione di tipo accademico, in collaborazione con Università ed enti di alta formazione.
Negli ultimi due anni abbiamo dovuto ridimensionare le nostre idee e gli spazi per adattarci alla situazione sfavorevole e potervi ospitare comunque con le condizioni giuste per assicurare la sicurezza di tutti.
Nel 2022 WMD si terrà in una location storica di Napoli, il Museo Nazionale Ferroviario di Pietrarsa
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Via Pietrarsa, 16, 80146 Napoli NA